产品简介

SY-BX60便携式玉米单株表型检测系统可实现玉米植株无损伤非破坏性测量作业，，通过设备拍照完成目标识别并自动去除背景杂质干扰，执行一键分析后即可输出多项植株形态参数：凸包面积、外接矩形面积、长宽比、侧视角紧凑度、侧视角投影面积、玉米株高、玉米穗位等关键表型指标。

SY-BX60便携式玉米单株表型检测系统
SY-BX60便携式玉米单株表型检测系统具有以下功能：

非破坏性活体测量玉米植株，无需取样离体，即可完成全株表型高通量采集。系统集成图像智能识别与拍照自动分析功能，能够自动排除叶片重叠、土壤颗粒、光影干扰等非目标杂质，一键启动分析后，即可同步获取多项整体形态指标，包括：植株凸包面积、玉米自然株高、穗位高度、外接矩形几何面积、植株长宽比、侧视方向紧凑度指数，以及侧视方向投影面积。

针对玉米果穗整体性状，系统支持整穗自动解析，无需人工分段测量，即可精准计算果穗长度、穗轴粗度、秃尖长度、左右穗缘角与穗行角，同时输出平均行粒数、粒厚均值、截面穗行数、穗粗与轴粗，以及果穗整体颜色特征及其各通道平均值，实现穗部性状的全面数字化。

对于玉米果穗截面性状，系统具备高效的截面批量分析能力，可同时测量单个果穗上最多15个不同截面位置，每个截面上均可提取粒长、粒宽、粒高及颜色值等细粒度参数，满足对穗部纵向分布规律的定量研究。

在籽粒尺度上，系统提供精细化的粒型指标分析模块，可对每一粒玉米籽粒进行独立识别与计算，自动输出单粒种子的粒长、粒宽、长宽比、投影面积和周长等基础参数。基于全部籽粒的检测结果，系统进一步汇总得到总粒数、千粒重与百粒重估算值、粒色分布，以及粒长、粒宽、长宽比、面积和周长的平均值与标准差。此外，系统支持半自动方式测定容重与水分含量，并可按设定规则对籽粒数据进行排序输出，同时生成种子大小对比排列图，便于直观比较不同品种或处理间的粒型差异。

株高与穗位高数据由系统自动识别并数值化显示，用户也可根据实际观测情况手动录入作物其他农艺性状信息，以wanshan单株或小区级别的数据记录，满足多样化田间数据管理需求。

在局部器官尺度上，系统支持直接测量关键茎叶结构参数，包括茎秆节间距长度、节间茎粗、叶片长度、叶片弯曲角度、以及茎叶夹角等。由于整个测量过程无需破坏植株，因此可对玉米各生育时期进行连续追踪与动态比较研究，为生长规律分析提供可靠数据支撑。

种子百粒重与千粒重均为系统自动计算输出，无需人工数粒称量，极大提高测定效率。

本系统具备高通量快速测量能力，单次拍摄后约10秒内即可完成全部图像分析与参数计算，同步生成整体株型与局部器官的完整特征数据集，适用于大规模育种筛选及群体表型调查。

在抗倒伏力学表征方面，系统提供抗倒伏力曲线测量功能，可模拟多个不同倾斜角度下植株受力响应过程，尤其适用于模拟水平方向持续风吹作用下的力学行为，所得结果更贴近田间自然倒伏情境，为品种抗倒性评价提供更真实的参考依据。

图像结果展示界面支持左右滑动切换，方便用户在原图、二值化处理图及玉米骨架结构图之间快速比对观察，直观呈现图像处理各阶段效果。

数据结果按照整体与局部两个层级进行分类展示：整体层面输出参考种群密度、凸包面积、外接矩形面积、长宽比、侧视紧凑度、侧视投影面积、株高、绿色程度指数及叶片总数；局部层面则分别展示各节间长度、各节茎粗、各叶长度、各叶着生高度、各叶弯曲度及各茎叶夹角数值，实现从宏观到微观的结构信息全覆盖。

所有测量数据支持以统一表格形式集中展示，单张表即可完整呈现全部参数结果。同时支持多组实验数据与对应图像批量导出为Excel格式文件，便于后续统计分析。导出的数据可通过分享功能转发至微信、QQ、钉钉等常用协作软件，也可传输至电脑端进行深度处理。所有保存后的数据支持云端yongjiu存储，确保数据安全与长期可追溯。

品种名称管理方面，系统既支持逐个添加单一品种名称，也支持批量导入多个品种名称，提升品种信息录入效率。数据管理功能涵盖数据修正、条件查询、内容编辑与多格式导出，便于用户根据实际需要灵活处理数据，满足科研、教学与育种实践中的多样化需求。